IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通過最終國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)版草案(FDIS) 階段，目前已正式公布。有關(guān)電子產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)- IEC 62321，概述了電子產(chǎn)品的測(cè)試方法，以確定產(chǎn)品中的有害化學(xué)物質(zhì)濃度低于歐盟有害物質(zhì)限制指令（RoHS）法律中制定的有害化學(xué)物質(zhì)濃度。如同以往，2008版的IEC 62321標(biāo)準(zhǔn)也經(jīng)過了一段維護(hù)周期，現(xiàn)今再將最佳的操作和先進(jìn)的技術(shù)引入測(cè)試程序，以確保實(shí)驗(yàn)的一致性和可靠度，滿足標(biāo)準(zhǔn)的制定。

IEC 標(biāo)準(zhǔn)	范圍
62321-1	簡(jiǎn)介和概述
62321-2	樣品的拆卸、拆解和機(jī)械拆分
62321-3-1	使用X射線熒光光譜儀對(duì)電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進(jìn)行篩選
62321-3-2	使用C-IC對(duì)聚合物和電子產(chǎn)品中的總溴進(jìn)行篩選
62321-4	使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物、金屬和電子材料中的汞
62321-5	使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛

          2013版的最主要變化在于將文件拆分成一系列標(biāo)準(zhǔn)，以利標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)，同時(shí)導(dǎo)入新的測(cè)試方法或儀器，例如燃燒- 離子層析儀(C-IC) 和冷蒸汽原子熒光光譜儀(CV-AFS)。